Navegação por Assunto "Física IV"
Resultados 1-20 de 20
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Afiação de ferramentas de corte diamantadas
(2001) [Resumo publicado em evento] -
Análise de amostras geológicas via PIXE
(2001) [Resumo publicado em evento] -
Aprendizado e aplicação do programa Fullprof para refinamento estrutural a partir do método Rietveld
(2002) [Resumo publicado em evento] -
Compactação de pós nanométricos de AIPO/sub 4/ em alta pressão
(2001) [Resumo publicado em evento] -
Desenvolvimento de um programa em ambiente Windows para ajuste geral de curvas
(2002) [Resumo publicado em evento] -
Determinação precisa de densidade de pequenas amostras
(2001) [Resumo publicado em evento] -
Efeito Meissner e efeito de blindagem em supercondutores de alta temperatura crítica
(2002) [Resumo publicado em evento] -
Estudo das propriedades magnéticas e estruturais de ligas fem (m=cr, v e co)
(2002) [Resumo publicado em evento] -
Estudo do poder de freamento eletrônico do /sup 16/O em silício em direção canalizada
(2001) [Resumo publicado em evento] -
Estudo experimental das propriedades de ligas metálicas construídas em forno a arco
(2002) [Resumo publicado em evento] -
Implantação de baixa energia de Sb em cristais de Si
(2001) [Resumo publicado em evento] -
Otimização de filtros em exames spect de perfusão cerebral em medicina nuclear
(2002) [Resumo publicado em evento] -
Poder de freamento eletrônico de íons leves canalizados em cristais de Si
(2001) [Resumo publicado em evento] -
Porta-amostra para medida do calor específico em baixas temperaturas
(2002) [Resumo publicado em evento] -
Processamento de nanoestruturas em óxido de silício por bombardeio de íons individuais e ataque químico
(2001) [Resumo publicado em evento] -
Propriedades estruturais dos compostos Fe/sub x/Co/sub 1-x/Ta/sub 2/O/sub 6/ : um estudo com o método Rietveld
(2002) [Resumo publicado em evento] -
Resolução do sistema PIXE do IF-UFRGS
(2001) [Resumo publicado em evento] -
Técnica de alta pressão aplicada à compactação de pós nanométricos
(2002) [Resumo publicado em evento] -
Uso de uma distribuição binomial para simulação de distribuição de campos hiperfinos
(2002) [Resumo publicado em evento] -
Utilização do método de Rietveld para a análise de espectros de raios-x
(2002) [Resumo publicado em evento]