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Análise de falhas em uma memória PSRAM por efeitos de dose total ionizante
(2011) [Trabalho de conclusão de graduação]Este relatório apresenta o trabalho desenvolvido durante a disciplina Projeto de Diplomação do Curso de Engenharia Elétrica da Universidade Federal do Rio Grande do Sul. O objetivo deste trabalho é descrever os efeitos da ... -
Análise dos efeitos de dose total ionizante em transistores CMOS tecnologia 0,35 μm
(2013) [Dissertação]Este trabalho apresenta um estudo sobre a degradação de parâmetros elétricos de transistores CMOS tecnologia 0,35 μm, fabricados com o processo AMS C35B4, devido aos efeitos de dose total ionizante. Os efeitos de dose total ... -
Efeitos da radiação ionizante e técnicas de proteção aplicadas a projetos de dispositivos MOS customizados
(2015) [Dissertação]Os efeitos produzidos pela interação da radiação ionizante com os circuitos integrados podem ser classificados em efeitos de eventos únicos (Single Event Effects - SEE), comumente relacionados a problemas transientes, e ... -
Projeto de um amplificador operacional cmos de dois estágios e simulação elétrica do efeito de dose total
(2010) [Dissertação]Este trabalho tem o objetivo de, inicialmente, fazer uma análise das fontes de radiação relevantes para aplicações de circuitos integrados em ambientes aeroespaciais. Em seguida se discute o efeito da radiação ionizante ...