Navegação por Assunto "Test generation"

Resultados 1-3 de 3

    • Análise da performance do algoritmo d 

      Dornelles, Edelweis Helena Ache Garcez (1993) [Dissertação]
      A geração de testes para circuitos combinacionais com fan-outs recovergentes é um problema NP-completo. Com o rápido crescimento da complexidade dos circuitos fabricados, a geração de testes passou a ser um sério problema ...

    • Geração de testes indiretos de circuitos analógicos baseados em aprendizado de máquina utilizando simulações SPICE 

      Ferreira, Állan Fabrício Garcia (2023) [Trabalho de conclusão de graduação]
      Em CIs analógicos, uma parte significativa do preço final do produto é concentrado na etapa de teste, principalmente quando o teste funcional é utilizado. A alta qualidade desse tipo de teste se dá pela verificação de todas ...

    • A high-fault-coverage approach for the test of data, control, and handshake interconnects in mesh networks-on-chip 

      Cota, Erika Fernandes; Kastensmidt, Fernanda Gusmão de Lima; Santos, Maico Cassel dos; Hervé, Marcos Barcellos; Almeida, Pedro Rogério Vieira de; Meirelles, Paulo Roberto Miranda; Amory, Alexandre de Morais; Lubaszewski, Marcelo Soares (2008) [Artigo de periódico]
      A novel strategy for detecting interconnect faults between distinct channels in networks-on-chip is proposed. Short faults between distinct channels in the data, control, and communication handshake wires are considered ...