Metrologia em nanoescala: "Round Robin" entre técnicas de análise baseadas em íons, raios X e elétrons.

dc.contributor.advisor	Azevedo, Gustavo de Medeiros	pt_BR
dc.contributor.author	Figini, Ester Riedner	pt_BR
dc.date.accessioned	2015-03-19T16:14:55Z	pt_BR
dc.date.issued	2014	pt_BR
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/10183/113942	pt_BR
dc.format.mimetype	application/pdf
dc.language.iso	por	pt_BR
dc.rights	Open Access	en
dc.title	Metrologia em nanoescala: "Round Robin" entre técnicas de análise baseadas em íons, raios X e elétrons.	pt_BR
dc.type	Resumo publicado em evento	pt_BR
dc.contributor.event	Salão de Iniciação Científica (26. : 2014 out. 20-24 : UFRGS, Porto Alegre, RS).	pt_BR
dc.subject.session	Processamento e análise de materiais ii	pt_BR
dc.subject.theme	Processamento e análise de materiais	pt_BR
dc.subject.cnpq	Ciências exatas e da terra	pt_BR
dc.type.presentation	Apresentação oral	pt_BR
dc.description.number	8	pt_BR
dc.identifier.sic	37489	pt_BR
dc.subject.macro	Física	pt_BR

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