Caracterização de contatos e de largura efetiva de linha em um circuito integrado de teste
dc.contributor.advisor | Bampi, Sergio | pt_BR |
dc.contributor.author | Esperanca, Carlos Gontarski | pt_BR |
dc.contributor.author | Candido, Joao Carlos | pt_BR |
dc.contributor.author | Ferreira, Luiz Fernando | pt_BR |
dc.date.accessioned | 2016-04-12T02:06:34Z | pt_BR |
dc.date.issued | 1991 | pt_BR |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10183/135495 | pt_BR |
dc.format.mimetype | application/pdf | |
dc.language.iso | por | pt_BR |
dc.relation.ispartof | Salão de Iniciação Científica (3. : 1991 : Porto Alegre). [Resumos]. Porto Alegre : UFRGS, 1991. | pt_BR |
dc.rights | Open Access | en |
dc.subject | Circuitos integrados | pt_BR |
dc.title | Caracterização de contatos e de largura efetiva de linha em um circuito integrado de teste | pt_BR |
dc.type | Resumo publicado em evento | pt_BR |
dc.contributor.event | Salão de Iniciação Científica (03. : 1991 nov. 04-08 : UFRGS, Porto Alegre, RS). | pt_BR |
dc.identifier.nrb | 000060588 | pt_BR |
dc.subject.cnpq | Ciências exatas e da terra | pt_BR |
dc.description.number | 098 | pt_BR |
dc.type.origin | Nacional | pt_BR |
Este item está licenciado na Creative Commons License
-
Anais e Trabalhos de Eventos (42633)Ciências Exatas e da Terra (5194)