MONTAGEM E CARACTERIZAÇÃO DA TÉCNICA TOF-SIMS PARA ANÁLISE SUPERFICIAL DE MATERIAIS

dc.contributor.advisor	Weibel, Daniel Eduardo	pt_BR
dc.contributor.author	Duarte, Cesar Bergamin	pt_BR
dc.date.accessioned	2016-04-12T17:42:43Z	pt_BR
dc.date.issued	2015	pt_BR
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/10183/135779	pt_BR
dc.format.mimetype	application/pdf
dc.language.iso	por	pt_BR
dc.rights	Open Access	en
dc.title	MONTAGEM E CARACTERIZAÇÃO DA TÉCNICA TOF-SIMS PARA ANÁLISE SUPERFICIAL DE MATERIAIS	pt_BR
dc.type	Resumo publicado em evento	pt_BR
dc.contributor.event	Salão de Iniciação Científica (27. : 2015 out. 19-23 : UFRGS, Porto Alegre, RS).	pt_BR
dc.subject.session	Quimica de materiais 1	pt_BR
dc.subject.theme	Química de materiais	pt_BR
dc.subject.cnpq	Ciências exatas e da terra	pt_BR
dc.type.presentation	Apresentação oral	pt_BR
dc.description.number	1	pt_BR
dc.identifier.sic	40295	pt_BR
dc.subject.macro	Química	pt_BR

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