ANÁLISE DO VOLTAGE SCALING EM PORTAS LÓGICAS XOR UTILIZANDO DISPOSITIVOS FINFET

dc.contributor.advisor	Reis, Ricardo Augusto da Luz	pt_BR
dc.contributor.author	Brendler, Leonardo Heitich	pt_BR
dc.contributor.author	Zimpeck, Alexandra Lackmann	pt_BR
dc.contributor.author	Aguiar, Ygor Quadros de	pt_BR
dc.date.accessioned	2018-05-04T15:59:46Z	pt_BR
dc.date.issued	2017	pt_BR
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/10183/177475	pt_BR
dc.format.mimetype	application/pdf
dc.format.mimetype	video/mp4
dc.language.iso	por	pt_BR
dc.rights	Open Access	en
dc.title	ANÁLISE DO VOLTAGE SCALING EM PORTAS LÓGICAS XOR UTILIZANDO DISPOSITIVOS FINFET	pt_BR
dc.type	Resumo publicado em evento	pt_BR
dc.contributor.event	Feira de Inovação Tecnológica da UFRGS (7. : 2017 out. 16-20 : Porto Alegre, RS).	pt_BR
dc.subject.session	Sessao 1	pt_BR
dc.subject.cnpq	Engenharias	pt_BR
dc.type.presentation	Apresentação oral	pt_BR
dc.description.number	12	pt_BR
dc.identifier.sic	57221	pt_BR

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