Mostrar registro simples

dc.contributor.advisorDias, Johnny Ferrazpt_BR
dc.contributor.authorKuhn, Túlio Lauxpt_BR
dc.date.accessioned2019-04-10T10:50:57Zpt_BR
dc.date.issued2018pt_BR
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10183/191646pt_BR
dc.format.mimetypeapplication/pdfpt_BR
dc.language.isoporpt_BR
dc.rightsOpen Accessen
dc.titleAnálise Elementar de Sais Através da Técnica PIXEpt_BR
dc.typeResumo publicado em eventopt_BR
dc.contributor.eventSalão de Iniciação Científica (30. : 2018 out. 15-19 : UFRGS, Porto Alegre, RS).pt_BR
dc.subject.sessionProcessamento e análise de materiais 1pt_BR
dc.subject.themeProcessamento e análise de materiaispt_BR
dc.subject.cnpqCiências exatas e da terrapt_BR
dc.type.presentationApresentação oralpt_BR
dc.description.number6pt_BR
dc.identifier.sic59437pt_BR
dc.subject.macroFísicapt_BR


Thumbnail
Thumbnail
   

Este item está licenciado na Creative Commons License

Mostrar registro simples