Explorando o Projeto Multi-Nível de Portas Básicas para Reduzir a Variabilidade e os Efeitos de Radiação na Tecnologia FinFET

dc.contributor.advisor	Reis, Ricardo Augusto da Luz	pt_BR
dc.contributor.author	Brendler, Leonardo Heitich	pt_BR
dc.contributor.author	Zimpeck, Alexandra Lackmann	pt_BR
dc.contributor.author	Meinhardt, Cristina	pt_BR
dc.date.accessioned	2019-04-10T13:29:35Z	pt_BR
dc.date.issued	2018	pt_BR
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/10183/192456	pt_BR
dc.format.mimetype	video/mp4	pt_BR
dc.format.mimetype	application/pdf	pt_BR
dc.language.iso	por	pt_BR
dc.rights	Open Access	en
dc.title	Explorando o Projeto Multi-Nível de Portas Básicas para Reduzir a Variabilidade e os Efeitos de Radiação na Tecnologia FinFET	pt_BR
dc.type	Resumo publicado em evento	pt_BR
dc.contributor.event	Feira de Inovação Tecnológica da UFRGS (8. : 2018 out. 15-19 : Porto Alegre, RS).	pt_BR
dc.subject.session	Sessão 5	pt_BR
dc.subject.cnpq	Engenharias	pt_BR
dc.type.presentation	Apresentação oral	pt_BR
dc.description.number	16	pt_BR
dc.identifier.sic	62459	pt_BR

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