Explorando o Projeto Multi-Nível de Portas Básicas para Reduzir a Variabilidade e os Efeitos de Radiação na Tecnologia FinFET
dc.contributor.advisor | Reis, Ricardo Augusto da Luz | pt_BR |
dc.contributor.author | Brendler, Leonardo Heitich | pt_BR |
dc.contributor.author | Zimpeck, Alexandra Lackmann | pt_BR |
dc.contributor.author | Meinhardt, Cristina | pt_BR |
dc.date.accessioned | 2019-04-10T13:29:35Z | pt_BR |
dc.date.issued | 2018 | pt_BR |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10183/192456 | pt_BR |
dc.format.mimetype | video/mp4 | pt_BR |
dc.format.mimetype | application/pdf | pt_BR |
dc.language.iso | por | pt_BR |
dc.rights | Open Access | en |
dc.title | Explorando o Projeto Multi-Nível de Portas Básicas para Reduzir a Variabilidade e os Efeitos de Radiação na Tecnologia FinFET | pt_BR |
dc.type | Resumo publicado em evento | pt_BR |
dc.contributor.event | Feira de Inovação Tecnológica da UFRGS (8. : 2018 out. 15-19 : Porto Alegre, RS). | pt_BR |
dc.subject.session | Sessão 5 | pt_BR |
dc.subject.cnpq | Engenharias | pt_BR |
dc.type.presentation | Apresentação oral | pt_BR |
dc.description.number | 16 | pt_BR |
dc.identifier.sic | 62459 | pt_BR |
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FINOVA 2018 (99)