Uma Técnica de depuração e teste de circuitos integrados usando um microscópio eletrônico
dc.contributor.advisor | Susin, Altamiro Amadeu | pt_BR |
dc.contributor.author | Orellana Hurtado, Carlos Jesus | pt_BR |
dc.date.accessioned | 2007-06-06T17:21:00Z | pt_BR |
dc.date.issued | 1986 | pt_BR |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10183/2245 | pt_BR |
dc.description.abstract | O trabalho tem por objetivo mostrar uma técnica de depuração de circuitos integrados VLSI, utilizando um microscópio eletrônico de varredura (MEV) aliado ao fenômeno de contraste por tensão. São abordadas a descrição da ferramenta, técnicas de observação e depuração dos circuitos, bem como, são sugeridas estratégias de concepção visando facilitar a depuração dos circuitos. Embora tenham sido utilizados circuitos NMOS para realizar as experiências, a técnica é aplicável a circuitos MOS em geral. Resultados experimentais, utilizando circuitos projetados no PGCC, são apresentados. | pt_BR |
dc.format.mimetype | application/pdf | |
dc.language.iso | por | pt_BR |
dc.rights | Open Access | en |
dc.subject | Microeletrônica | pt_BR |
dc.subject | Testes : Circuitos integrados | pt_BR |
dc.subject | Microscopio eletronico : Varredura | pt_BR |
dc.subject | Depuração : Circuitos integrados | pt_BR |
dc.title | Uma Técnica de depuração e teste de circuitos integrados usando um microscópio eletrônico | pt_BR |
dc.type | Dissertação | pt_BR |
dc.contributor.advisor-co | Reis, Ricardo Augusto da Luz | pt_BR |
dc.contributor.advisor-co | Wagner, Tiaraju Vasconcellos | pt_BR |
dc.identifier.nrb | 000316300 | pt_BR |
dc.degree.grantor | Universidade Federal do Rio Grande do Sul | pt_BR |
dc.degree.department | Instituto de Informática | pt_BR |
dc.degree.program | Curso de Pós-Graduação em Ciência da Computação | pt_BR |
dc.degree.local | Porto Alegre, BR-RS | pt_BR |
dc.degree.date | 1986 | pt_BR |
dc.degree.level | mestrado | pt_BR |
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