Confiabilidade em dispositivos semicondutores de dimensões nnométricas
dc.contributor.advisor | Wirth, Gilson Inacio | pt_BR |
dc.contributor.author | Lazarini, Arthur Yukio Hirata | pt_BR |
dc.date.accessioned | 2023-12-18T11:22:39Z | pt_BR |
dc.date.issued | 2023 | pt_BR |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10183/268863 | pt_BR |
dc.format.mimetype | video/mp4 | pt_BR |
dc.format.mimetype | application/pdf | pt_BR |
dc.language.iso | por | pt_BR |
dc.rights | Open Access | en |
dc.title | Confiabilidade em dispositivos semicondutores de dimensões nnométricas | pt_BR |
dc.type | Resumo publicado em evento | pt_BR |
dc.contributor.event | Salão de Iniciação Científica (35. : 2023 nov. 6-10 : UFRGS, Porto Alegre, RS). | pt_BR |
dc.subject.theme | Engenharia elétrica | pt_BR |
dc.subject.cnpq | Engenharias | pt_BR |
dc.type.presentation | Apresentação oral | pt_BR |
dc.identifier.sic | 80196 | pt_BR |
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Engenharias (198)