Estudo do efeito de 'exchange bias' em filmes finos de NiO/NiFe

dc.contributor.author	Menegotto, Thiago	pt_BR
dc.contributor.author	Geshev, Julian Penkov	pt_BR
dc.contributor.author	Morrone, Angelo Ribeiro	pt_BR
dc.contributor.author	Driemeier, Carlos Eduardo	pt_BR
dc.contributor.author	Nagamine, Luiz Carlos Camargo Miranda	pt_BR
dc.contributor.author	Schmidt, Joao Edgar	pt_BR
dc.date.accessioned	2012-10-11T01:36:07Z	pt_BR
dc.date.issued	2002	pt_BR
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/10183/56312	pt_BR
dc.format.mimetype	application/pdf	pt_BR
dc.language.iso	por	pt_BR
dc.relation.ispartof	Salão de Iniciação Científica (14. : 2002 : Porto Alegre). Livro de resumos. Porto Alegre : UFRGS, 2002.	pt_BR
dc.rights	Open Access	en
dc.subject	Física	pt_BR
dc.title	Estudo do efeito de 'exchange bias' em filmes finos de NiO/NiFe	pt_BR
dc.type	Resumo publicado em evento	pt_BR
dc.contributor.event	Salão de iniciação Científica (14. : 2002 dez. 2-6 : UFRGS, Porto Alegre, RS).	pt_BR
dc.identifier.nrb	000348015	pt_BR
dc.subject.session	Física VI	pt_BR
dc.subject.cnpq	Ciências exatas e da terra	pt_BR
dc.description.number	281	pt_BR
dc.type.origin	Nacional	pt_BR

Este item está licenciado na Creative Commons License