Utilização do Focused Ion Beam para preparação de amostras de microscopia eletrônica de transmissão

dc.contributor.advisor	Hinrichs, Ruth	pt_BR
dc.contributor.author	Stein, Letícia Ost	pt_BR
dc.date.accessioned	2017-03-20T10:49:57Z	pt_BR
dc.date.issued	2016	pt_BR
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/10183/154347	pt_BR
dc.format.mimetype	application/pdf
dc.language.iso	por	pt_BR
dc.rights	Open Access	en
dc.title	Utilização do Focused Ion Beam para preparação de amostras de microscopia eletrônica de transmissão	pt_BR
dc.type	Resumo publicado em evento	pt_BR
dc.contributor.event	Salão de Iniciação Científica (28. : 2016 set. 12-16 : UFRGS, Porto Alegre, RS).	pt_BR
dc.subject.session	Mineralogia e petrologia ii	pt_BR
dc.subject.theme	Mineralogia e petrologia	pt_BR
dc.subject.cnpq	Ciências exatas e da terra	pt_BR
dc.type.presentation	Apresentação oral	pt_BR
dc.description.number	6	pt_BR
dc.identifier.sic	47409	pt_BR
dc.subject.macro	Geociências	pt_BR

Este item está licenciado na Creative Commons License