Utilização do Focused Ion Beam para preparação de amostras de microscopia eletrônica de transmissão

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Data
2016
Autor
Orientador
Tipo
URI
http://hdl.handle.net/10183/154347
Evento
Salão de Iniciação Científica (28. : 2016 set. 12-16 : UFRGS, Porto Alegre, RS).
Tipo de apresentação
Apresentação oral
Grande Área
Ciências exatas e da terra
Sessão
Mineralogia e petrologia ii
Temática
Mineralogia e petrologia
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