Análise da Eficiência de um Silicon Drift Detector (SDD) na Detecção de Raio-X Característico para Particle-Induced X-ray Emission (PIXE)

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Data
2018
Autor
Orientador
Tipo
URI
http://hdl.handle.net/10183/191803
Evento
Salão de Iniciação Científica (30. : 2018 out. 15-19 : UFRGS, Porto Alegre, RS).
Tipo de apresentação
Apresentação oral
Grande Área
Ciências exatas e da terra
Sessão
Processamento e análise de materiais 1
Temática
Processamento e análise de materiais
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