Estruturas de Teste para Avaliação de Variabilidade Estatística em Dispositivos CMOS abaixo de 100nm.
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Data
2009Orientador
Evento
Salão de Iniciação Científica (21. : 2009 out. 19-23 : UFRGS, Porto Alegre, RS).
Tipo de apresentação
Apresentação oralGrande Área
Ciências exatas e da terra
Contido em
Salão de Iniciação Científica (21. : 2009 out. 19-23 : Porto Alegre, RS). Livro de resumos. Porto Alegre : UFRGS, 2009.
Sessão
Microeletrônica
Temática
Microeletrônica
Coleções
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