Caracterização do trigo por técnicas de feixe de íons

Abstract

Este trabalho apresenta a caracterização e a análise da concentração elementar de grãos de trigo e das farinhas deles derivadas, por meio das técnicas de Rutherford Backscattering Spectrometry (RBS) e Particle-Induced X-ray Emission (PIXE). Os experimentos foram realizados no Laboratório de Implantação Iônica (LII) da Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS). As amostras analisadas incluem farinhas comercialmente disponíveis e grãos de trigo triturados em laboratório. A caracterização foi feita com base nas principais partes da semente, o endosperma e o pericarpo, permitindo identificar os elementos presentes em cada região e comparar suas concentrações relativas. Os resultados mostram que os elementos mais presentes na semente são fósforo (P), enxofre (S) e potássio (K), e que alguns elementos apresentam concentrações relativas diferentes entre o pericarpo e o endosperma.

This work presents the characterization and analysis of the elemental concentration of wheat grains and their derived flours, through the techniques of Rutherford Backscattering Spectrometry (RBS) and Particle-Induced X-ray Emission (PIXE). The experiments were carried out at the Ion Implantation Laboratory (LII) of the Federal University of Rio Grande do Sul (UFRGS). The analyzed samples include commercially available flours and wheat grains ground in the laboratory. The characterization was based on the main parts of the seed, the endosperm and the pericarp, allowing the identification of the elements present in each region and the comparison of their relative concentrations. The results show that the most present elements in the seed are phosphorus (P), sulfur (S), and potassium (K), and that some elements have different relative concentrations between the pericarp and the endosperm.